データ通信量の増加や処理速度の高速化が求められる昨今では、伝送装置や伝送路だけでなく、光モジュールや高速デバイスの検証項目も複雑化しつつあります。それに伴い、測定器へのニーズも多様化する中で、多数のラインアップを取り揃えることで、最適なモデルの提案を実現しています。
大容量データ伝送による伝送速度の高速化といった背景により、伝送装置や伝送路の評価ニーズが高まっています。
伝送路の開通試験や保守点検で扱いやすい可搬モデルはもちろん、伝送装置の研究/開発用途でも活躍できる高性能モデルを取り揃えています。
スマートフォンやモバイル端末によるデータ通信量の増加に伴い、データセンタ内のネットワークインタフェースは200 GbE/400 GbE/800 GbE、通信機器のバスインタフェースもPCI Express Gen5では32 Gbits/sに高速化し、さらにマルチチャネル化が進んでいます。
ビットエラーレート測定(BER測定)には、光モジュールや高速デバイスの品質の評価・管理を目的とした幅広い測定需要が存在します。
様々なアプリケーションの測定をサポートすることにより、これらの測定需要に応えます。